億昇精密焊接設(shè)備(多圖)-ICT測試 ：

在線測試，ICT，In-Circuit Test，是通過對在線元器件的電性能及電氣連接進行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標準測試手段。它主要檢查在線的單個元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準確等特點。 是一種元器件級的測試方法用來測試裝配后的電路板上的每個元器件

EA—2在線測試設(shè)備為上下兩層可同時在線測試設(shè)備，主要由左右升降部分與上下測試部分而成。當需要提高生產(chǎn)效率單層測試時間需要很長時，可使用雙層測試來實現(xiàn)，可提高生產(chǎn)率，降低等待測試時間。

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視頻作者：深圳市億昇精密光電科技有限公司

  單片機功能測試治具主要有以下部分：

      1， 測試夾具，把產(chǎn)品的輸入，輸出接口引伸出來。

      2，MCU控制板：整個測試流程及測試值的判斷。輸入及輸出的控制。顯示控制

      3，信號源板：提供測試時需要的各種信號源

      4，繼電器板：切換各種輸入，輸出

      5，量測板：產(chǎn)品輸出部分的量測，判斷好否

      6。顯示模塊：顯示測試結(jié)果及顯示測試狀態(tài)，一般為LCD及數(shù)碼管

   特點：單片機功能測試價格適中，測試，測試品質(zhì)好，人為介入少。但通用性不強，一般只能一個機種配一個夾具

ICT測試治具要求每一個電路節(jié)點至少有一個測試點。但隨著器件集成度高，功能越來越強，封裝越來越小，SMT元件的增多，多層板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一個節(jié)點放一根探針變得很困難，為增加測試點，使制造費用變高；同時為開發(fā)一個功能強大器件的測試庫變得困難，開發(fā)周期延長。為此，聯(lián)合測試組織（JTAG）頒布了IEEE1149.1測試標準。具有邊界掃描的器件的每個引腳都和一個串行移位寄存器（SSR）的單元相接，稱為掃描單元，掃描單元連在一起構(gòu)成一個移位寄存器鏈，用來控制和檢測器件引腳。其特定的四個管腳用來完成測試任務(wù)。